鍍鉻厚度的測(cè)量方法有哪些？

鍍鉻厚度的測(cè)量方法有物理法和化學(xué)法兩大類(lèi)。

化學(xué)法包括溶解法、計(jì)時(shí)流液法、電量法等。

溶解法是用化學(xué)試劑溶解鍍層，稱(chēng)重后換算厚度，但不適用于鍍層與基體含相同金屬成分的情況。

計(jì)時(shí)流液法根據(jù)溶液變化確定鍍層溶解終點(diǎn)，從而計(jì)算厚度。

計(jì)時(shí)點(diǎn)滴法精度低，僅用于小于 1.2μm 的薄鉻鍍層。

電量法通過(guò)陽(yáng)極電解溶解鍍層，根據(jù)相關(guān)數(shù)據(jù)確定厚度，還能對(duì)多層金屬鍍層連續(xù)測(cè)定。

物理法有直接測(cè)量法、質(zhì)量法、磁性法、β射線反射法、x 射線熒光法、多相顯微鏡法、輪廓儀法等。

斷面金相法需制備斷面試樣，測(cè)量精度高但操作麻煩。

磁性法通過(guò)測(cè)量磁通量和互感電流確定厚度，對(duì)試樣無(wú)損傷，適用于鐵基體上非磁性覆蓋層。

β 射線反向散射法根據(jù)反射射線強(qiáng)度測(cè)厚度，精度高，適用于大多數(shù)金屬鍍層。

x 射線熒光法利用 x 射線激發(fā)特性 x 射線，測(cè)量衰減強(qiáng)度確定厚度，精度高但需標(biāo)準(zhǔn)樣品校正。

輪廓儀法是溶解或掩蓋基體形成臺(tái)階，測(cè)量臺(tái)階高度。

對(duì)于鋁上鍍鉻厚度測(cè)量，可使用 Fischer ISOSCOPE DMP10 菲希爾渦流法測(cè)厚儀，選擇儀器要考慮涂鍍層種類(lèi)和底材材料。

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀也可用于鋁上鍍鉻層厚度測(cè)量。

鍍銀和鍍金層厚度檢測(cè)常用方法有金相顯微鏡法、x 射線熒光法、渦流法和磁性法。

金相顯微鏡法測(cè)量準(zhǔn)確但破壞性大。

x 射線熒光法非破壞性、速度快但可能受基材和鍍層成分影響。

渦流法適用于快速測(cè)量但精度受多種因素影響。

磁性法操作簡(jiǎn)單但測(cè)量范圍有限。

還可使用專(zhuān)門(mén)的鍍層測(cè)厚儀，如 x 射線熒光鍍層測(cè)厚儀，能非破壞性測(cè)量，適用于多個(gè)行業(yè)。

在國(guó)際和國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，鍍鉻厚度涉及表面處理和鍍涂、材料防護(hù)等。

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)和福特汽車(chē)等都有相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。